Chipsmall X-Ray Inspection for Electronic Components Is Opening Now

එක්ස් කිරණ පරීක්ෂාව යනු පරීක්ෂණ වස්තුවේ අභ්යන්තර ව්යුහය ලබා ගැනීම සඳහා එක්ස් කිරණ නිරූපණ තාක්ෂණය භාවිතා කිරීමයි, ඉන්පසු පරීක්ෂණ වස්තුව කඩ නොකර පරීක්ෂණ වස්තුවේ අභ්යන්තර තොරතුරු නිරීක්ෂණය කිරීම.

එය ප්රධාන වශයෙන් භාවිතා වන්නේ අව්යාජත්ව විනිශ්චය සහ සංරචක විශ්ලේෂණය සඳහා ය.එය චිපයේ අව්යාජත්ව විනිශ්චය සහ වැරදි විශ්ලේෂණය සහ හඳුනා ගැනීම සඳහා ජාත්යන්තරව පිළිගත් ක්රමයකි.

එක්ස් කිරණ අනාවරණය කිරීමේ තාක්ෂණයට වේගවත් වේගය, විනාශකාරී නොවන සහ අඩු පිරිවැය චිප් අව්යාජව හඳුනාගැනීම සඳහා ඇති වාසි ඇත.

චිප් අසමත් හඳුනාගැනීම:

එක්ස් කිරණ පින්තූර හරහා, චිපයේ අභ්යන්තර දෝෂ, පීල් කිරීම, පුපුරා යාම, පුපුරා යාම, පුපුරා යාම, පුපුරා යාම, හිස් වැසුම් ආලේප කිරීම, චිපය අසාර්ථක වීමට සහාය වීම.

චිප් අව්යාජභාවය විනිශ්චය:

සම්මත චිපය සමඟ ටෙස්ට් කෑල්ලේ එක්ස් කිරිග්රැල්ස් හි රාමුව, ධාන්ය, ඊයම් වයර් සහ වෙනත් මූලද්රව්ය සංසන්දනය කිරීමෙන් සත්යතාව විනිශ්චය කළ හැකිය;